真空衰減法微泄漏無(wú)損密封測(cè)試儀依據(jù)《ASTM F2338-2013 包裝泄漏的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)方法-真空衰減法》 標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)。 專業(yè)適用于各種空的/預(yù)充式注射器、水針及粉針瓶（玻璃/塑料）、灌裝壓蓋瓶、其他硬質(zhì)包裝容器、電器元件等試樣的 無(wú)損正、負(fù)壓的微泄漏測(cè)試。本產(chǎn)品采用*的設(shè)計(jì)和嚴(yán)謹(jǐn)、科學(xué)的計(jì)算方法保證了其快速測(cè)試和高準(zhǔn)確度及高穩(wěn)定 性。亦可滿足用戶的非標(biāo)準(zhǔn)（軟件或測(cè)試夾具）定制。

  真空衰減法作為無(wú)損定量檢漏技術(shù)的代表，相比傳統(tǒng)檢漏方法如染色法、微生物侵入法優(yōu)勢(shì)明顯；相比其他的無(wú)損檢漏技術(shù)如激光法，適用范圍廣，符合標(biāo)準(zhǔn)多。 MLT-V100微泄露無(wú)損密封儀具有真空衰減法的最高檢漏精度≤1um，不僅適用于高、低真空度及常壓的包裝，也適用于固體、液體填充的包裝，非常適合于制藥行業(yè)的客戶使用。

與行業(yè)里長(zhǎng)用的的檢測(cè)方法對(duì)比：

染色法：? 破壞性測(cè)試 ? 受多方面因素影響 ? 可能會(huì)出現(xiàn)假陽(yáng)性結(jié)果

微生物侵入法：? 破壞性測(cè)試 ? 泄漏通道為曲折路徑時(shí)漏檢率高 ? 測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，測(cè)試過程繁瑣

真空衰減法:? 無(wú)損測(cè)試? 定量檢測(cè)? 測(cè)試時(shí)間短? 可以檢測(cè)高真空度、低真空度和常壓的包裝

? 可以檢測(cè)液體部分的完整性 ? 可以直接檢測(cè)出泄漏率和漏孔大小

? 同時(shí)符合美國(guó)ASTM標(biāo)準(zhǔn)和FDA要求? 封口前泄漏封口后完好的包裝可以檢出